介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀-介電常數(shù)測(cè)試儀

簡(jiǎn)要描述：介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀是根據(jù)GB/T 1409《測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長(zhǎng)在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法》（等效采用IEC 60250）設(shè)計(jì)和制造的，并符合JB 7770等試驗(yàn)方法。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測(cè)試。

產(chǎn)品型號(hào)：
廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家
更新時(shí)間：2025-07-20
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介電常數(shù)測(cè)試儀

硫化橡膠介電常數(shù)測(cè)試儀介電常數(shù)測(cè)試儀陶瓷材料介電常數(shù)測(cè)試儀橡膠介電常數(shù)測(cè)試儀絕緣材料介電常數(shù)測(cè)試儀工頻介電常數(shù)測(cè)試儀介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀

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    ZJD-A介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀儀器介紹

    ZJD-A介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀是根據(jù)GB/T 1409《測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長(zhǎng)在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法》（等效采用IEC 60250）設(shè)計(jì)和制造的，并符合JB 7770等試驗(yàn)方法。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測(cè)試。

    技術(shù)參數(shù)

    1 Q值測(cè)量范圍：5～999

    Q值量程分檔：30、100、300、999、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換擋

    誤差：25kHz～10MHz   ≤5%±滿(mǎn)度值的2%

    10MHz～50MHz  ≤7%±滿(mǎn)度值的2%

    2 電感測(cè)量范圍：0.1μH～1H  分七個(gè)量程

    3 電容測(cè)量范圍：1PF～460PF

    主電容調(diào)節(jié)范圍：40PF～500 PF

    準(zhǔn)確度：150PF以下±1.5PF

    150PF以上±1%

    微調(diào)電容調(diào)節(jié)范圍：-3PF～0PF～+3PF

    準(zhǔn)確度：±0.2PF

    4 頻率覆蓋范圍：25 kHz～50MHz 分七段

    指示誤差：2×10-4±2個(gè)字

    5 電源：220V±22V   50Hz±2.5Hz   25W

    6 環(huán)境溫度：(0～+40)℃

    7 相對(duì)濕度：RH<80%

    8 外形尺寸：380mm×132mm×280mm

    9 重量：約7kg

    中航時(shí)代所有產(chǎn)品質(zhì)保兩年，終身維修,請(qǐng)放心瀏覽選購(gòu)。

    ZJD-B數(shù)字式介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀

    儀器介紹

    ZJD-B全數(shù)字顯示介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀是根據(jù)GB/T 1409《測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長(zhǎng)在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法》（等效采用IEC 60250）設(shè)計(jì)和制造的，并符合JB 7770等試驗(yàn)方法。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測(cè)試。

    ZJD-B數(shù)字式介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀讀書(shū)清晰,無(wú)須換算,操作簡(jiǎn)便,特別適合電子元器件的質(zhì)量分析,品質(zhì)控制,科研生產(chǎn),也可用于高校的電子信息,電子通信,材料科學(xué)等專(zhuān)業(yè)作科研實(shí)驗(yàn)儀器.

    技術(shù)參數(shù)

信號(hào)源頻率范圍	DDS數(shù)字合成 10KHz-60MHz	Q測(cè)量范圍	1-1000自動(dòng)/手動(dòng)量程
信號(hào)源頻率覆蓋比	1900/9/6 0:01	Q分辨率	4位有效數(shù),分辨率0.1
信號(hào)源頻率精度	3X10 -5 ±1個(gè)字,6位有效數(shù)	Q測(cè)量工作誤差	<5%
電感測(cè)量范圍	15nH-8.4H,4位有效數(shù),分辨率0.1nH	調(diào)諧電容	主電容30-500PF
電感測(cè)量誤差	<5%	調(diào)諧電容誤差和分辨率	±1.5P或<1%
標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量頻點(diǎn)	全波段任意頻率下均可測(cè)試	Q合格預(yù)置范圍	5-1000聲光提示
諧振點(diǎn)搜索	自動(dòng)掃描	Q量程切換	自動(dòng)/手動(dòng)
諧振指針	LCD顯示	LCD顯示參數(shù)	F,L,C,Q,波段等

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    ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀儀器介紹

    ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀是根據(jù)GB/T 1409《測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長(zhǎng)在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法》（等效采用IEC 60250）設(shè)計(jì)和制造的，并符合JB 7770等試驗(yàn)方法。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測(cè)試。

    技術(shù)參數(shù)

    ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器，測(cè)試頻率上限達(dá)到目前高的160MHz。 ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀采用了多項(xiàng)技術(shù)：

    1 雙掃描技術(shù) - 測(cè)試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能。

    2 雙測(cè)試要素輸入 - 測(cè)試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過(guò)數(shù)字按鍵輸入。

    3 雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧，數(shù)碼化電容調(diào)諧。

    4 自動(dòng)化測(cè)量技術(shù) -對(duì)測(cè)試件實(shí)施 Q 值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動(dòng)測(cè)量。

    5 全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、 Q 值、信號(hào)源頻率、諧振指針。

    6 DDS 數(shù)字直接合成的信號(hào)源 -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。

    7 計(jì)算機(jī)自動(dòng)修正技術(shù)和測(cè)試回路*化 —使測(cè)試回路殘余電感減至zui低，** Q 讀數(shù)值在不同頻率時(shí)要加以修正的困惑。

    ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀的創(chuàng)新設(shè)計(jì)，無(wú)疑為高頻元器件的阻抗測(cè)量提供了*的解決方案，它給從事高頻電子設(shè)計(jì)的工程師、科研人員、高校實(shí)驗(yàn)室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測(cè)工具，測(cè)量值更為精確，測(cè)量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點(diǎn)調(diào)諧電容值下檢測(cè)器件的品質(zhì)，無(wú)須關(guān)注量程和換算單位。

	主要技術(shù)特性
Q 值測(cè)量范圍	2 ～ 1023,量程分檔： 30 、 100 、 300 、 1000,自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔
固有誤差	≤ 5％±滿(mǎn)度值的 2％(200kHz～10MHz),≤6％±滿(mǎn)度值的2％（10MHz～160MHz）
工作誤差	≤7％ ± 滿(mǎn)度值的2％(200kHz ～ 10MHz),≤8％ ± 滿(mǎn)度值的2％(10MHz～160MHz)
電感測(cè)量范圍	4.5nH ～ 140mH
電容直接測(cè)量范圍	1 ～ 200pF
主電容調(diào)節(jié)范圍	18 ～ 220pF
主電容調(diào)節(jié)準(zhǔn)確度	120pF 以下 ± 1.2pF;120pF 以上 ± 1 ％
信號(hào)源頻率覆蓋范圍	100kHz ～ 160MHz
頻率分段(虛擬)	100 ～ 999.999kHz,1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz,100 ～ 160MHz
頻率指示誤差	3 × 10 -5 ± 1 個(gè)字

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