介質(zhì)損耗因數(shù)測量的重要意義

介質(zhì)損耗因數(shù)(tgδ)是反映絕緣性能的基本指標(biāo)之一，介質(zhì)損耗因數(shù)(tgδ)可以很靈敏地發(fā)現(xiàn)電氣設(shè)備絕緣整體受潮，劣化變質(zhì)以及小體積設(shè)備貫通和未貫通的局部缺陷。例如：某臺變壓器的套管，正常介質(zhì)損耗因數(shù)(tgδ)值為0.5％，而當(dāng)受潮后介質(zhì)損耗因數(shù)(tgδ)值為3.5％，兩個數(shù)據(jù)相差了7倍；而若用測量絕緣電阻的方法，則受潮前后的數(shù)值相差不大。由于測量介 質(zhì)損耗因數(shù)對反映上述缺陷具有較高的靈 敏度，所以在電工制造及電力設(shè)備交接和預(yù)防性試驗中都得到了廣泛的應(yīng)用。

測量介損的同時，也能得到試品的電容量。如果多個電容屏中的一個或幾個電容發(fā)生短路或斷路時，電容量就有明顯的 變化，因此電容量也是介損的一個重要參數(shù)。

測量介損對判斷電氣設(shè)備的絕緣狀況是一種傳統(tǒng)的、十分有效的方法。絕緣能力的下降直接反映為介損增大。從而就可分析絕緣下降的原因，如：絕緣受潮、絕緣油受污染、儀器設(shè)備老化變質(zhì)等等。