串聯(lián)法

將待測(cè)電阻Rx 與已知電阻Rs 串聯(lián)，測(cè)量分壓計(jì)算Rx 。

簡(jiǎn)單易行，適合高阻值測(cè)量。

線性刻度誤差大，依賴(lài)電壓源的精度。

實(shí)驗(yàn)室中高阻材料測(cè)試。

并聯(lián)法

將Rx與標(biāo)準(zhǔn)電阻并聯(lián)，通過(guò)總電流反推  Rx 。

適合低阻值測(cè)量。

小阻值易受接觸電阻干擾。

精度需求較低的現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)。

電壓比較法

基于分壓原理，比較標(biāo)準(zhǔn)電阻與待測(cè)電阻的電壓比值。

電路簡(jiǎn)潔，適合中高阻值。

需要高精度電壓表。

中壓設(shè)備絕緣性能檢測(cè)。

電橋法

平衡電橋兩臂電壓，利用橋臂電阻比例關(guān)系計(jì)算Rx 。

高精度（±0.1%），分辨率優(yōu)。

需手動(dòng)平衡，操作復(fù)雜，耗時(shí)。

實(shí)驗(yàn)室精密測(cè)量（如校準(zhǔn)芯片封裝）。

全橋法

四電阻平衡橋，消除溫度漂移與接觸電阻影響。

抗干擾性強(qiáng)，熱穩(wěn)定性好。

設(shè)備復(fù)雜，成本高。

高精度半導(dǎo)體材料測(cè)試。

半橋法

僅用兩電阻橋臂，電路簡(jiǎn)化。

操作便捷，成本較低。

精度較低（±1%）。

工業(yè)常規(guī)檢測(cè)。

電容充放電法

測(cè)量RC電路充放電時(shí)間常數(shù)，通過(guò)t= R×C  計(jì)算電阻。

適合超高阻（>101?Ω），抗干擾性好。

需精確計(jì)時(shí)設(shè)備，低頻響應(yīng)差。

電力電纜絕緣老化評(píng)估。

高壓測(cè)漏流法

施加標(biāo)準(zhǔn)高壓（如1000 V），直接測(cè)量漏電流 I，由  R=V/I  計(jì)算電阻。

自動(dòng)化高，量程廣（10?~101?Ω）。

需高壓防護(hù)設(shè)計(jì)，成本較高。

工業(yè)主流（IEC 60243標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試）。